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测试服务项目预览

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 请和测试部联系,根据样品难以程度和耗时等因素确认价格。

 


 

仪器名称:S4800场发射扫描电子显微镜

加速电压15kV下,二次电子分辨率1nm加速电压1kV下(减速模式),二次电子分辨率1.4nm   材料的显微结构,微区成分分析,低加速电压可直接观察不导电试样

主要功能及应用范围:

扫描电镜具有高景深、高分辨率、高放大倍数,且操作简便、样品制备简单等特点。可用于直接观察样品表面形貌。广泛应用于材料科学、生物医学、物理、化学、地质、机械加工、微电路质量检验、失效分析等领域。

 


 

仪器名称: FEI Tecnai G2 F20场发射透射电子显微镜

仪器参数

加速电压:200kV

高分辨极靴 (S-TWIN)

点分辨率:0.24nm

线分辨率:0.14nmSTEM (HAADF)

分辨率:0.19nm

电子束能量色散:<0.7eV最大束流:>100nA

1nm束斑最大束流:>0.5nAEELS (Gatan Enfina)

能量分辨率:0.7eV

EDAX能谱仪 (EDS)5B~92U

主要功能及应用范围:

可实现材料微观组织形貌、晶体结构和微区成分的同位分析。样品类型包括金属材料、金属基复合材料和陶瓷及陶瓷基复合材料的薄膜样品,以及各种形状的纳米材料等。可广泛应用于材料科学、物理、化学、地质诸多研究领域。

 


 

仪器型号:LABRAM XPLORA

仪器参数:激发波长532nm-638nm主要功能及应用范围:

1. 可用于材料鉴定、组成分析乃至材料的异构体区分:

2. 接受多种形状的样品(如瓶装、小玻璃瓶装、核磁管装、片剂、膜剂等)。

 

 


 

仪器名称:ESCALAB 250 X射线光电子能谱仪

性能指标:

能量分辨率≤0.45eV

空间分辨率≤20μm

真空度≤2×10-10mbar

带俄歇、紫外光电子能谱附件

主要功能及应用范围:

测试固体样品表面成分、化学元素像、化学价态、深度剖析。

样品要求:适用于非磁性、非放射性和非挥发性导体、半导体、绝缘体,粉末、薄膜,无机物、有机物、高聚物材料。

块体样品:尺寸(长××高)10 mm×10 mm×3 mm,上下表面平行且平整。样品无磁性。

 

粉末样品:样品重量:~30 mg,样品要充分干燥,粉末尽量研细,样品无磁性,无腐蚀性。

 

 


 

主要功能及应用范围: 

红外光谱仪可用于中红外光谱分析。红外光谱法能提供丰富的有关分子结构方面的信息,可用于有机化合物的鉴别;能对聚合物的化学性质、立体结构、构象、序列、取向等提供定性的信息;研究聚合物的主链结构、取代基位置、双键位置、侧链结构以及老化和降解机理;对高分子材料、粘合剂及涂料等组分的定性分析;可用于表面或界面研究。 

 


 

主要功能及应用范围:紫外-可见分光光度计可以获得液体和固体在紫外及近红外范围内的透射及吸收特性,可以进行分子鉴别,材料吸光度测试,

应用于光催化研究、半导体光催化剂的带边测定、液相光催化反应动力学表征、贵金属纳米颗粒表面等离子体共振性能表征、半导体薄膜的吸光度测量、光学滤光片性能检测等。

 

 


 

仪器名称: 视频光学接触角测量仪

(Video-based, contact angle measuring device)

仪器型号: OCA20

 国别、厂家: 德国 Dataphysics 公司

主要技术指标:样品台规格: 100*100mm

接触角测量范围: 0180°±0.1°

表面/界面张力测量范围:0.012000±0.05 mN/m 

测试温度范围:室温~400 升温速率:2k/s高性能六倍聚焦透镜及CCD摄像系统。

主要附件:

垂直注射针架,无需连接软管

温度控制单元(TEC 400

薄膜及纸张支持器(FSC80FSH30

电动剂量单元(E-MD/2

TC 400/NHD针加热温度控制器

NHD 400针加热系统

主要功能及应用范围:

本仪器通过光学视频的原理,采用座滴法(sessile drop)、悬滴法(Pendent drop)测量液体的静态、动态接触角及液体的表面/界面张力。广泛应用于纳米材料、高分子复合材料、生物复合材料、油漆、涂料、涂层、信息材料等领域表面/界面性能的研究。

 

 

磁控溅射仪

 

主要功能及应用范围:

将材料制备成纽扣电池,测试钠离子电池的开路电压,循环伏安曲线,不同倍率下的循环曲线,倍率曲线,交流阻抗图谱等相关测试。

适用于各种可应用于钠离子电池正负极的材料,包括各种纳米粉体材料、纳米薄膜材料。

 


 

仪器名称:气体吸附仪

仪器型号:AUTOSORB-1-C

国别、厂家:美国 QUANTACHROME仪器公司

主要技术指标:

孔径分析范围:3.5-5000 Å

比表面测定下限:0.0005 m2/g

孔体积检测极限:<0.0001cc/g

压力范围:10-6-0.13MPa

分辨率:0.000025% ofrange

最小可分辨相对压力(P/P0):2.6×10-7N2

真空度:3.75×10-10 mmHg

分析站数:1

脱气站数:2

脱气温度:室温~450 

温度选择:递进

温度精度:±1% ofset point

主要功能及应用范围: 

本仪器兼具化学吸附和物理吸附两种功能。可测定材料的比表面积、孔径分布、孔体积分布。适用于聚合物粒子、无机多孔粒子、催化剂颗粒的吸附特征及化学吸附现象的研究。

 

 

晶片尺寸和类型:单晶片50-200mm;小批量晶片可以大至150mm;156mm x 156mm太阳能硅片;


三维物体;粉末和颗粒;穿孔样品


工艺温度: 50 – 500°C ,可定制为更高温度


基片装载选件: 气动升降机(手动装载);手动loadlock负载保护;半自动装载机器臂;


前躯体: 液体、固体、气体、臭氧、等离子;最高可以连接12个源、6个独立管道入口

 

广泛应用于:纳米材料、纳米科技、半导体、薄膜材料、薄膜沉积以及航空航天领域。

 

 


 

仪器名称:Rigaku D/max 2550V

仪器参数: 

X射线发生器:功率18kW60kV,450mA),Cu旋转阳极靶 

扫描方式:θ-2θ测角仪 
X射线发生器稳定度:<0.01% 

测角仪精度():0.002° 

主要功能及应用范围:

适合于物相定性定量分析、晶型鉴别、结晶度测定以及晶胞参数精确测定等薄膜分析附件,适合于纳米材料粒径尺寸及分布分析

 

仪器名称:热重分析仪-Q500

仪器型号:TA-Q500 TGA

国别、厂家:美国TA公司,简称TA公司

主要技术指标:

温度测量范围:室温~1000 

升温速率:0.1100 /min

天平灵敏度:0.1 μg

天平精确度:0.01 %

天平精度:0.01 %

炉内气氛: N2 (Air) 

动态称重范围:1000mg

恒温温度准确度:1

 恒温温度精确度:0.1

 

主要功能及应用范围: 

 

用于测定试样在程序温度下(升温、降温、恒温)质量的变化。由此了解物质的热分解过程,评价物质的热稳定性,探讨稳定性与物质结构及添加剂之间的关系。研究物质降解过程的机理及降解动力学。

 

 

 

超级电容器性能测试

主要功能及应用范围:

 

将材料制备成电容器,测试电容器的循环伏安曲线,不同倍率下的循环曲线,倍率曲线,交流阻抗图谱等相关测试。

适用于各种可应用于电容器正负极的材料,包括各种纳米粉体材料、纳米薄膜材料。

 

收费标准:1000-2000/批次

 

 


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